以下因素会对镀层测厚仪产生示值不准的影响

　　镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量可以在10秒到几分钟内完成。

　　镀层测厚仪在测量时偶尔会示值不准，那么下面几个问题对测量结果有影响作用，我们来看看如何应对：

　　1、表面粗糙度和表面清洁度

　　在粗糙度表面上为获得一个有代表性的平均测量值必须进行多次测量才行。显而易见，不论是基体或是覆层，越粗糙，测量值越不可靠。本仪器为获得可靠的数据，基体的平均粗糙度应小于覆层厚度的5％。而对于表面杂质，则应予去除。有的仪表上下限，以剔除那些“飞点”。

　　2、覆层材料中的铁磁成份和导电成份

　　覆层中存在某些铁磁成分，如某种颜料时，会对测量值产生影响，在这种情况下，对用作校准的对比试样覆层应具有与被测物覆层相同的电磁特性，经校准后使用。使用的方法可以是将同样的覆层涂在铝或铜板试样上，用电涡流法测试后获得对比标准。

　　3、探头测量板的作用力

　　仪器探头测量时的作用力应是恒定的。并应尽可能小。才不致使软的覆层发生形变，以致测量值下降。活产生大的波动，必要时，可在两者之间垫一层硬的，不导电的，具有一定厚度的硬性薄膜。这样通过减去薄膜厚度就能适当地得到剩磁。

　　4、外界恒磁场、电磁场和基体剩磁

　　应该避免在有干扰作用的外界磁场附近进行测量。残存的剩磁，根据镀层测厚仪的性能可能导致或多或少的测量误差，但是如结构钢，深冲成形钢板等一般不会出现上述现象。